一种基于双光束照射的干涉粒子成像测量方法技术资料下载

技术编号:6189059

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本发明公开了。该方法采用两条强度相等的片状光束相向照射粒子场,在散射角为90°区域记录粒子散射光的聚焦像(两点像)和/或离焦像(条纹图)。基于单向梯度匹配和傅里叶变换技术,提取粒子离焦像位置及条纹数/条纹间距,利用修正Rife/二次修正Rife算法对频率进行亚像素细分。利用模版匹配方法提取粒子聚焦像位置坐标,再对每个粒子两点像进行自相关、Gaussian插值提取两点像之间距离,进而计算得到粒子尺寸大小,其测量精度可达到亚象素精度。结合PIV/PTV技术,可...
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