技术编号:6189059
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了。该方法采用两条强度相等的片状光束相向照射粒子场,在散射角为90°区域记录粒子散射光的聚焦像(两点像)和/或离焦像(条纹图)。基于单向梯度匹配和傅里叶变换技术,提取粒子离焦像位置及条纹数/条纹间距,利用修正Rife/二次修正Rife算法对频率进行亚像素细分。利用模版匹配方法提取粒子聚焦像位置坐标,再对每个粒子两点像进行自相关、Gaussian插值提取两点像之间距离,进而计算得到粒子尺寸大小,其测量精度可达到亚象素精度。结合PIV/PTV技术,可...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。