技术编号:6190320
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供一种光学三角位移测头的光路系统,包括聚焦光路系统和成像光路系统,其中,光源发出的光束通过聚焦光束系统照射在待测物体表面上,通过漫反射或者散射,该光束通过成像光学系统在检测器上成像,并且所述成像光路系统在聚焦平面上成放大的像。专利说明光学三角测头的光路系统[0001]本发明涉及一种用于工业测量领域的光学三角测头的光路系统。背景技术[0002]随着工业测量领域的不断扩展以及对测量精度和测量速度的不断提高,传统的接触式测量已经无法满足工业界的需求。光学...
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