技术编号:6190612
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种晶体振荡器温度特性自动测量方法和系统。所述方法包括设置待测晶体振荡器的多个温度测试点;根据温度测试点,依次产生调温信号,发送给晶振测量单元,以调整晶振测量单元为待测晶体振荡器提供的环境温度;当晶振测量单元的环境温度每达到一个温度测试点时,产生频率测量信号,发送给晶振测量单元,获取晶振测量单元中待测晶体振荡器的频率测量值;获取与全部温度测试点对应的各频率测量值,对各频率测量值进行数据处理,得到待测晶体振荡器的温度特性指标。本发明解决了因为人为...
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