技术编号:6190619
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光学器件测量,具体涉及到。本方法包括测量波导器件输入保偏尾纤的长度;测量波导芯片的长度;测量波导器件输出保偏尾纤的长度;对准输入/输出尾纤慢轴与波导芯片的传输轴;获取第一次分布式偏振串音测量结果;变换波导器件的光注入条件;获取第二次分布式偏振串音测量结果;通过对数据的分析和计算,获得波导器件光学参量。该方法可以准确地获得波导芯片的消光比和线性双折射,还能够同时获得芯片波导输入/输出端尾纤的耦合串音、线性双折射,输入/输出延长光纤焊点,以及波导芯片...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。