技术编号:6191516
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及測量、测试,更具体地,涉及ー种综合测试系统。背景技术測量是按照某种规律,用数据来描述观察到的现象,即对事物作出量化描述。測量是对非量化实物的量化过程。测量对象主要指几何量,包括长度、角度、表面粗糙度以及形位误差等。由于几何量的特点是种类繁多,形状又各式各样,因此对于他们的特性,被测參数的定义,以及标准等都必须加以研究和熟悉,以便进行測量。而测试则是測定、检查、试验的意思。目前測量、检测的设备、仪器越来越多,但均是针对某ー项特定的功能进行检測,例如...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。