一种水平全限制相变量子点相变机理的检测方法技术资料下载

技术编号:6191534

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本发明涉及微纳米电子,特别涉及。背景技术高新技术产业和基础服务设施的加速发展对于快速计算和高效存储的要求越来越高,而CPU处理能力的提升对存储芯片的速度和功耗的依赖性越来越显著,因此如何发展高效存储成为未来急需突破的关键技术之一。与目前大多数的存储器相比,相变存储器(Phase Change Random Access Memory, PCRAM)具有非挥发性、器件尺寸小、功耗低、读取速度快、抗辐照、能实现多级存储以及与现有的CMOS工艺兼容等诸多优点,被...
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