技术编号：6200462
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光学测量领域，尤其涉及一种光异步采样信号测量的方法和系统。背景技术光异步采样技术是采用两个频率精确锁定但略有差别的光频梳，通过利用两个频率之间的微小的频率差实现与采样示波器原理类似的高精度时域“等效采样”信号的测量方法。光异步采样技术已经应用于泵浦-探测，太赫兹时域光谱，测距等领域。但是之前的研究人员所使用的光源均为两个独立的、具有一定频率差的激光器，这两个激光器需要复杂的电路反馈控制系统，才能使其保持恒定的频率差与相位锁定，系统复杂，成本高，应...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。