技术编号:6207404
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于磁约束等离子体诊断领域,具体涉及一种基于偏振片和光谱仪的应用于托卡马克装置的高精度磁场倾斜角测量系统。它包括4个光学准直透镜、4个偏振片、光纤、光谱仪、CCD相机和数据采集控制系统,4个光学准直透镜通过光纤连接光谱仪,光谱仪与CCD相机连接,CCD相机与数据采集控制系统连接,每个光学准直透镜前设置有一个偏振片。本实用新型的优点是,系统的可靠性好,测量精度也非常高,既适用于等离子体磁场偏转角的测量,也适用于其他线偏振光偏振方向的高精度测量。专利...
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