技术编号：6210363
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。一种用于锗晶体电阻率测量的测量架，底座中部设有互相平行的两条导轨，导轨上设有轴承，轴承之间通过连接板固定连接；底板通过回转轴承设置在连接板上；底板周缘设有若干立柱，立柱上端设有横臂，横臂可以自由移动，且由紧固螺丝固定在立柱上；横臂的前端套设有触头，通过横臂侧面的螺丝固定在横臂的前端；触头末端带有倾角，具有限位部；底座边缘设有竖杆、辅助架、微调螺杆、探针。本实用新型可使晶体头尾安全地固定住，提高了测试精度，降低了探针的损耗程度，适用于不同尺寸的锗晶体头尾的固...
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