技术编号:6214768
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本文中所提供的是一种装置,包括用于将光子发射到物品的表面上的光子发射装置;用于检测从物品的表面中的特征散射的光子的光子检测装置;以及用于映射物品的表面中的特征的映射装置,其中此装置被配置成每100秒处理多于一个物品。专利说明表面特征映射 交叉引用[0001] 本申请要求2012年5月9日提交的美国临时专利申请No. 61/644,998的权益。 背景技术 [0002] 在生产线上制造的物品可被检查某些特征,包括可降级物品或包括该物品的系统 的性能的缺陷...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。