技术编号：6215584
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。，属于纳米力学测试实验。本发明包括基体和样品支撑架，基体分为磁性样品区及非磁性样品区，磁性样品区内设置有变深度样品区，磁性样品区下面设有磁性金属；非磁性样品区内设有超薄样品放置区，样品支撑架与超薄样品放置区相对应。在本发明样品台上固定样品时无需胶水粘贴，避免清理胶水时损坏样品台；通过变深度样品区固定高度过高样品时，可以降低样品高度，避免撞针事故；通过样品支撑架固定超薄样品时，利用定位螺钉固定，借助样品支撑架提高样品高度；样品台坐标网格线用于扫描电镜定位样品...
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