技术编号:6217045
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种用于对电磁辐射进行扫描分析的仪器设备。背景技术随着现代电子系统主频的提高、集成度的增加、产品体积的缩小,系统内部信号产生的电磁辐射也随之增加,从而产生信号与信号间的电磁干扰。这种电磁干扰大到一定程度时会影响系统的稳定性甚至导致功能失效。同样,由于系统的电磁辐射的增加,会导致系统与系统间产生电磁干扰。这种电磁干扰大到一定程度时,会影响另一系统的工作稳定性,甚至导致系统瘫痪。为此,产品的电磁兼容性(EMC)指标已经成为产品能否走向市场的关键。...
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