技术编号：6217781
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供一种，所要解决的问题是现有的图像分析仪仅能获得颗粒材料二维图像数据，在对二维图像数据进行处理之后，应用上述幂指数与分形维数关系回归分析才能得到的颗粒材料的线分维数，而且回归分析系数相对较低、无法直接读取分形维数结果；本发明的技术要点是数据处理系统包括测控模块、颗粒图像处理模块和线分形维数计算模块；以及配合图像分析仪使用的方法；本发明通过在颗粒图像分析系统的测控软件中增加颗粒图像处理模块和线分形维数计算模块，使颗粒图像分析系统在现有功能基础上，增加...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。