技术编号:6217808
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。,该方法通过分析瓷质悬式绝缘子串的温度特征信息来实现劣化绝缘子的诊断。应用该方法实施诊断时需先在待检测现场采集一定数量同类型无明显异常绝缘子串的红外热像图谱,形成本检测现场该类型绝缘子串的基准温度特征信息。然后提取待诊断绝缘子串红外热像图谱中的温度特征信息与基准温度特征信息比较,有明显差异时即可以判断为缺陷绝缘子。本发明可排除环境干扰因素对绝缘子串的温度特征影响,有效提高红外热像法绝缘子缺陷诊断的正确率。本发明考虑了不同位置绝缘子温度特征的差异性,提出比较...
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