技术编号:6219061
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明提出。本发明先测定被测物内部缺陷在x-y面上的二维位置和尺寸,然后测定被测物内部缺陷在z方向的深度。本发明方法能够扫查检测得到内部缺陷的三维位置和尺寸信息、具有高精度、高效性、适用于各类材料的无损检测。专利说明[0001]本发明属于激光超声无损检测,具体涉及。背景技术[0002]内部缺陷是在各种工件材料中都广泛存在的一种缺陷,如果不及时检测确认,可能会导致工件的断裂、损毁等,严重影响生产安全。然而,由于内部缺陷的隐蔽性和在各类材料中存在的广泛性,又由...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。