技术编号：6219624
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种OSP膜厚的测量方法，包括如下步骤（1）取样，在样品的OSP膜表面喷镀一层金属镀层；（2）在金属镀层表面涂覆环氧树脂胶，烘烤使环氧树脂胶固化；（3）制作切片，用扫描电镜测量OSP膜的厚度。本发明的测量方法通过直接在OSP膜表面进行喷镀和涂覆环氧胶、将待测OSP膜保护起来后再进行切片制作，利用扫描电镜可直观地观察OSP镀膜均匀性，从而对OSP膜覆盖程度进行评估，且可以直接对膜厚进行测量。其测试结果重现性和精确度高，所得数据便于工程参考和对比。...
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