技术编号：6219757
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明实施例公开了一种集成电路芯片内部参考电压的校准方法和装置，校准方法包括将与所述集成电路芯片连接的恒定供电电压作为所述集成电路芯片模数转换初始化的基准电压；根据所述基准电压，对所述集成电路芯片内部的参考电压进行校准；其中，所述对所述集成电路芯片内部的参考电压进行校准包括采集所述集成电路芯片内部的参考电压值，将参考电压校准值设置为所述参考电压值。相应地，本发明实施例还公开了使用上述校准方法校准的内部参考电压来对集成电路芯片采集的数据进行校准的方法和装置。...
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