技术编号：6221705
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种利用潘宁放电区分托卡马克残余气体中氦与氘的光学质谱计诊断技术，利用D2和He放电产生的低温等离子体发射光谱的特征光谱He-I和D-α波长迥异，将待测气体D2和He引入电离室，安装在电离室一侧的潘宁放电系统电离该待测气体产生低温等离子体，随后分析该等离子体产生的He-I谱线和D-α光谱，进而测量出两种气体（He和D2）的绝对含量，实现实时监测托卡马克中He和D2演化的诊断技术，从而解决了由于He和D2分子质量数接近（He4.003，D24.0...
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