技术编号:6221809
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及液晶型光学器件相位检测领域,具体涉及,将移相干涉技术与相位共轭技术相结合,并在移相干涉技术中将入射光正交偏振分解为一路移相参考臂和一路信号臂从而共光路入射进入液晶光学器件进行液晶调制相位的检测。本发明首次将正交移相共轭干涉仪的方法用于液晶型光学器件的相位检测,并结合移相干涉技术复原液晶的调制相位,明显优于一般的调制相位恢复的方法。专利说明[0001]本发明涉及液晶型光学器件相位检测领域,具体涉及。背景技术[0002]在液晶的众多特性中,液晶电控双...
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