用于太赫兹近场测量的准光型探头、探测系统及探测方法技术资料下载

技术编号:6222084

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本发明公开了一种用于太赫兹近场测量的准光型探头、探测系统及基于该系统的探测方法,所述准光型探头设置在接收机之前,包括一块金属屏和一透镜,金属屏中心开有直径为D的小孔,金属屏的厚度t小于所述小孔的直径D,小孔外区域覆有吸波材料,且屏面面积不小于设定扫描的近场范围;所述透镜与金属屏平行放置,透镜中心与金属屏小孔的中轴线位于同一直线上,且透镜前后的准光学焦点分别落在金属屏小孔和接收机的天线口面上。本发明探头具有低损耗、易加工的优点,并能与热电子混频超导接收机配合...
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