技术编号:6222120
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明是,包括步骤S1利用电荷耦合器件的读出放大器的复位金属氧化物半导体管导通时,获取吸收浮置栅电容上储存的信号电子形成复位栅极微弱电流;步骤S2通过纳安表检测读出放大器上复位金属氧化物半导体管的复位栅极微弱电流;步骤S3根据复位栅极微弱电流计算出浮置栅电容上每个像素的平均电子总数,从而检测到被测相机的电子增益倍数。本发明旨在解决电荷耦合器件读出放大器的非线性特征及其产生的读出噪声将会增大电子增益倍数测量误差的问题,非常适合用于电荷耦合器件在电子增益标定过...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。