技术编号:6223948
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供了。本发明编码时,设定相移周期长度lp为格雷码周期长度lg的2倍,即;设定相移起始点Op相对于格雷码起始点Og滞后。解码时,利用容错式求得被测点编码空间位置,避免了格雷码值错误对被测点编码空间位置的影响。本发明避免了由于复杂表面干扰导致的图像信息提取误差,从而避免了测量粗大误差、提高了编码光三维测量的抗复杂表面干扰能力。专利说明—种用于复杂表面编码光测量的容错编解码方法[0001](一) 本发明涉及编码光三维测量领域,尤其涉及该领域中的编解码方...
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