技术编号：6224171
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种集成电路测试方法及装置，所述集成电路测试方法用于通过测量待测集成电路的N个待测焊盘之间的电阻值是否正常来判断信号线之间是否存在短路，包括如下步骤对所述N个待测焊盘之间的个电阻进行分组；测量第一组电阻的并联电阻值，如果所述第一组电阻的并联电阻值大于预定电阻值，则测量下一组电阻的并联电阻值，如果每一组电阻的并联电阻值均大于所述预定电阻值，则测试结束，判断所述待测集成电路的信号线之间不存在短路现象，其中N为大于3的整数。专利说明集成电路测试方法及测...
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