技术编号:6225136
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供,包括以下步骤步骤101连接相关设备;步骤102实现不同光强下的光纤光谱仪的信噪比测量;步骤103经过N次信号采集测量,计算阵列光电探测器第i个曝光像素所对应信号的校正平均值μi与信号偏离平均值的抖动值σi的比值。采用上述方案,能够适应光纤光谱仪信噪比的测量需要,不仅能够减小或降低杂散光的影响,而且通过可调光衰减器能够便捷改变光纤光谱仪的入射光强度大小,实现不同入射光强度下其信噪比的精确地测量。专利说明[0001]本发明属于光纤光谱仪信噪比的精确...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。