技术编号:6226481
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种利用芯片保护二极管测量电路开短路的装置,包含测量仪和待测IC,所述测试仪包含DC输入模块、显示模块、稳压电路、微处理器和输入输出接口,所述待测IC包含保护二极管,所述显示LED模块和输入输出接口连接在微处理器的相应端口上,所述输入输出接口连接待测ICPIN脚。该装置结构简单测试效率高;可以单独进行IC测试;能够测试PCBA板上与IC相连接的CONN焊接是否开短路。不需要组装成实机进行测试,从而提高测试效率。专利说明—种利用芯片保护二极管测量...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。