技术编号：6226777
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光学材料测量，具体为一种。本发明测量装置包括一低相干度光源、分束镜,两片平板玻璃组成的F-P腔,二维样品台、待测样品、聚焦透镜、耦合光纤、光谱仪和计算机；测量时将F-P腔调至使入射光垂直入射，待测量样品插入腔内并使光束垂直入射样品表面，通过测量样品放入腔内前后的两幅光谱数据，就可以计算出样品的几何厚度d和群速折射率ng；本发明测量装置结构简单，测量方法操作简便，测量精度高。系统易于制成小型化和便携式装置。专利说明[0001]本发明属于光学材料测量...
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