技术编号：6227636
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了，将测试集按单位长度M分成若干块，首先通过异或逻辑运算将块内数据为01或10的交替序列变换成全0或全1序列；其次，对于不能转换的序列，不断进行折半划分。本发明相比现有技术具有以下优点本发明的基于异或逻辑运算折半划分的测试数据压缩方法，代码字的长度直接用折半的次数表示，减少了代码字的长度，且解压时直接将计数器移位，提高了压缩率，减少了减压时的硬件开销，降低了解压成本。专利说明[0001]本发明涉及集成电路测试技术，尤其涉及的是。背景技术[0002...
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