技术编号:6229358
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了,具体涉及非晶硅薄膜的低频电流噪声测试技术,该测试技术使用的测试系统包括偏置电路、电磁屏蔽装置、噪声放大系统以及数据采集与处理系统。首先通过偏置电路激发出非晶硅薄膜的低频电流噪声,再通过低噪声电流放大器将样品低频噪声放大,继而通过数据采集卡采集放大后的噪声信号并计算出相应的电流噪声信号功率谱密度,最后利用电脑分析和处理数据,得出非晶硅薄膜低频噪声的功率谱密度曲线。本发明可实现非晶硅薄膜低频噪声的可重复精确测试,方便快捷。专利说明[0001]本发...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。