技术编号:6230845
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了,包括测试治具和测试板,在测试板同层面设计两条不同长度的被测传输线分别为命名为X1、X2,作为测试结构A、B,X1-X2的长度差至少要大于4inch,测试线的两端分别通过过孔连接到测试点;短线X2不能太短;通过传输线X1测得结构A的S参数包括IL(A)=X1传输线损耗+2个PCB过孔损耗+探针损耗+测试治具不确定影响;通过传输线X2测得结构B的S参数包括IL(B)=X2传输线损耗+2个PCB过孔损耗+探针损耗+测试治具不确定影响;计算测试结构A...
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