测量方法、载台装置、及曝光装置制造方法技术资料下载

技术编号:6230851

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一能减低周围气体的折射率变动的影响、以提高载台的定位精度等的曝光装置。一种曝光装置,是通过投影光学系统(PL)对晶圆载台(WST)上的晶圆(W)照射曝光用照明光,而在晶圆(W)形成既定图案。该曝光装置具备设置于晶圆载台(WST)的标尺;用以检测该标尺的位置资讯的多个X读头(66);一体支撑多个X读头(66),且线膨胀系数较晶圆载台(WST)的本体部小的测量框架(21);从多个X读头(66)的检测结果求出晶圆载台(WST)的位移资讯的控制装置。专利说明测里方...
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