技术编号:6230885
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明针对现有高压SF6环境下绝缘子表面聚积电荷模拟装置的不足,提供一种,能够精确控制试验电极的温度,模拟不同温度下绝缘子表面电荷的聚积状况,探究绝缘子表面电荷分布对其沿面闪络电压的影响,为绝缘子表面电荷聚积现象的深入研究提供可靠的实验基础。专利说明[0001 ] 本发明属于高电压设备与电子技术模拟实验领域。背景技术[0002]气体绝缘封闭开关设备(简称GIS)以其绝缘强度高、占地面积少、不受外界环境影响、检修周期长和维护量少等优势在我国电力系统中得到广泛...
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