技术编号：6230997
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供一种。本发明的目的在于提供一种正确地辨别光学薄膜的缺陷中的簇缺陷的方法。本发明的包括以下步骤拍摄被输送的光学薄膜来获取上述光学薄膜的图像(S1)；以及根据上述图像检测异物，当在以上述异物中的某一个异物为中心且半径为5mm的圆内存在两个以上的异物时，将包含中心的异物的上述异物的集合判断为簇缺陷(S2)，由此不强化检测条件就能够降低光学薄膜的次品率。专利说明 [0001]本发明涉及一种薄膜的缺陷检测方法。更详细地说，涉及一种光学薄膜中的簇缺陷的...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。