技术编号:6231518
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子元件生产领域的一种试验仪器,具体地说,本发明为一种大功率高压硅堆全动态老化试验仪。背景技术随着科学技术的进步,电子产品在人们生活中的应用越来越广泛,不同的电子产品由于其工作环境和功能的不同,对电子元器件的要求也不同,在电子元件生产领域,为生产出合格的产品,需要对其生产的产品进行全动态测试,以达到预期产品可靠性数据。在电子产品使用过程中由于电压的波动和负载的变化会造成电子产品的过载,这就需要电子元器件具有一定的过载能力,为测试所生产的电子元器件...
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