技术编号:6232099
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及,属于光电技术检测领域,所述测量系统包括激光器、扩束系统透镜组、刻蚀不透明点的平面透镜、成像CCD和一维电控移动台构成;本发明基于环形扫描斜率提取的非球面面形测量,无需补偿器,动态范围大,精度高,其研究成果可用于主镜初抛阶段的检测,解决相关技术瓶颈,具有重要的工程应用价值和现实意义。专利说明 [0001]本发明属于先进光学制造与检测领域,涉及一种光学检测装置,特别涉及一种大口径非球面主镜检测系统及方法。 背景技术 [0002]大口径高陡...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。