技术编号：6236215
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供了，通过在测试版图中设置有专门用以探针卡测试的电阻layout，在对测试电路区进行测试前，先利用探针卡扎针测试电阻，并根据测试的结果来判定探针卡是否存在异常，若无异常则可以直接继续对测试电路区进行WAT测试，若存在异常则需要及时更换探针卡，并在更换探针卡后再次利用更换后的探针卡扎针测试电阻从而根据测试结果来判断更换后的探针卡是否正常，直至检测结果符合要求方可进行后续的WAT测试。本发明可有效的检测出探针卡的异常并及早更换，从而保证探针卡具有的良好...
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