技术编号:6236643
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种双能X射线相位衬度成像装置及其实现方法,该双能X射线相位衬度成像装置沿光路依次包括X光机、源光栅、分束光栅、样品室、分析光栅和X射线探测器,其中X光机用于发出X射线;源光栅用于将大焦点的X光源分成为若干个不相干的小焦点光源;分束光栅用于将小焦点光源分成若干束,照射到样品室中的样品上,并在在分析光栅上形成几何投影;样品室用于放置并固定样品,同时带动样品进行旋转;分析光栅用于与分束光栅一起在X射线探测器上形成莫尔条纹;X射线探测器用于获取并记录...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。