技术编号:6237108
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉光学元件检测领域,尤其涉及。背景技术现有的光学元件在生产过程中会存在着各种缺陷,譬如脏污、条纹度及气泡度等。并且在组装后的光学元件,譬如、镜头等,其内部可能会残留毛发、灰尘及脏污等等。在光学元件和光学装置中,对这些缺陷都有相应的控制要求。现有的缺陷检,一般是在绿光的照明下,人工肉眼对光学元件进行识别,从而判断光学元件的缺陷,这种检测方法受人的主观因素影响较大,对人眼有损害,检测速度慢,且检测结果不准确,也不能直观显示检测结果。因此,现有技术还有待于...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。