技术编号:6237501
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种基于显微镜的激光双调制光谱系统,它包括一根单模光纤、一套成像放大系统、一个半透半反片、一套激光扩束系统、一个低频斩波器、一台激光器、一套显微镜系统和一个高频斩波器。纳米材料激光双调制反射光谱测量由以下部件实现根据激光双调制工作原理,将高频斩波器调制后的白光源经过显微镜照明系统作为探测光,低频斩波器调制后的激光扩束后作为泵浦光,然后探测光和泵浦光经过同一显微物镜作用于样品表面,单模光纤作为视场光阑放置在二次放大像面处,通过电机控制对样品面进行...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。