技术编号:6240012
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种分光器所用的波长校准方法以及分光光度计。提供一种用于通过将来自发光强度包含预定周期的变化的标准光源的光照射到分光器的衍射光栅上并且测量该衍射光栅所反射的光的强度来进行具有衍射光栅的分光器的波长校准的方法。该方法包括以下步骤在与包括标准光源所生成的亮线光谱光的峰值波长的范围的各波长相对应的衍射光栅的各转动位置处,在该周期内至少两次测量来自衍射光栅的反射光的强度;基于该转动位置处所获得的所有测量值来确定该转动位置处的强度值(201);以及将强度值...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。