技术编号：6242440
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了。该方法包括使用预设的标准紫外光源对日盲紫外成像仪进行标定；根据标定后的标定数据设置增益控制参数，并根据增益控制参数对日盲紫外成像仪的增益进行自动调节；使用所述日盲紫外成像仪对目标位置的电晕放电进行检测，得到实际检测数据；根据检测数据计算得到对应的目标位置的电晕的辐射亮度。通过使用本发明所提供的方法，可以对待检测电晕的辐射亮度进行定量检测。专利说明—种基于日盲紫外成像仪的电晕检测方法 [0001]本发明涉及紫外成像检测，特别涉及。 背景...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。