技术编号:6244137
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开一种基于双光束干涉原理的高精度光学微小推力测量系统,包括发动机悬挂组件、推力标定组件、推力测量光学系统。推力测量光学系统用于产生干涉条纹;通过发动机悬挂组件将待测量发动机吊装,在推力标定组件中码盘上放置砝码产生推力,模拟待测量发动机的推力。将推力施加于变形模使变形膜形变,进而使干涉条纹吞吐圈数变化。通过对干涉条纹吞吐圈数变化量计数,由计算机生成推力-计数个数曲线作为标定曲线。待测发动机产生的推力同样可使干涉条纹吞吐圈数变化,通过计数装置进行计数后...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。