技术编号：6244184
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开一种用于地物样品光谱测量的多功能全向测量系统。该系统包括宽光谱太阳模拟光源，地物光谱仪，电源系统，地物样品自转装置以及探测器公转装置，可在室内野外、有源无源的情况下工作，实现多功能全向测量。本专利所述的用于地物样品光谱测量的多功能全向测量系统主要用于固体地物样品光谱测量，用宽光谱太阳模拟光源模拟太阳光照射地物样品表面，通过地物样品自转装置和探测器公转装置控制地物样品与入射光束以及探测器与地物样品的相对位置，达到探测器接收地物样品表面反射光的目的，...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。