一种准分布式结构位移光学测量方法技术资料下载

技术编号:6244242

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,实施流程如下A.搭建测量装置与初步调试准备;B.图像像素与实际距离的标定;C.准分布测点图像模板制定与匹配优化;D.准分布式结构位移自动测量和存储。专利说明 [0001]本发明涉及光学、图像处理技术和结构参数识别技术,具体涉及到使用相机进行结构的准分布式动态位移测量。 背景技术 [0002]桥梁变形测量是对被测桥梁结构的位移进行跟踪识别,以确定其空间位置随时间的变化特征。桥梁变形测量利用工程测量原理、方法以及精密量测技术,测量桥梁变位控制点的坐...
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