技术编号：6245230
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及，以CT分析技术为基础，通过建立石英纤维增强二氧化硅基复合材料有限结构单元系列密度与CT灰度值的函数关系，实际检测中利用天线罩的CT测试结果来表征天线罩的密度分布和缺陷定位，为天线罩构件中存在的孔洞、局部严重低密度区、以及由织物的密度不均和复合工艺引起的密度梯度等缺陷提供准确的定量分析，本发明对大尺寸天线罩构件内部质量缺陷的准确定位、定性与分析具有重要的工程意义，为天线罩在线无损检测和质量控制提供重要的手段。专利说明 [0001] 本发明属...
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