技术编号:6245530
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明创造提供一种,应用于原子发射光谱分析系统中,根据共存元素的相互干扰关系建立模型其中,n为待分析样品中的元素个数,ki0表示待分析样品中第i个分析元素的净强度系数,kij表示待分析样品中第j个干扰元素对第i个分析元素的干扰系数,Ci表示待分析样品中第i个分析元素的真实浓度,通过模型计算出样品中共存元素的真实浓度。本方法具有元素检测范围宽、准确度高、精密度好,多种相互干扰元素同时测量、分析速度快等特点,将成为可替代专家进行分析的人工智能系统。专利说明 ...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。