技术编号：6252759
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了，包括1）在试件表面纵向均匀黏贴三个应变片，对试件进行预张拉，预加载至5kN，随后卸载至0kN；2）对试件进行重复加载，加载过程以0kN为加载起点，每级加载力为10kN，加载过程中记录应变片读数和光纤光栅中心波长，记录每级张拉的拉力数值和夹头的位移量；3）重复加载完成后，逐级加载至试件最终破坏，记录破坏时的应变片读数和光纤光栅中心波长。本发明在试件上贴有应变片，对试件进行重复分级加载后进行破坏性加载，对光纤光栅的中心波长及应变值进行检测，以便于...
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