技术编号：6273130
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。自动将专家反馈结合到监测系统中背景技术已经对复杂的电子装置开发出了诊断算法，以识别电子装置的构件中的失效的原因，以及预测特定失效类型的发生，如由安装到电子装置的各种构件上的传感器所产生的运行参数指示的那样。已经采用神经网络、决策树、基于案例的推理等来从由电子装置产生的数据中进行学习，以在诊断的上下文中提供预测和分类。诊断算法大体利用电子装置的构件的广泛的寿命测试来确定用来识别失效或预测失效的关键参数的标称值和阈值。发明内容在示例实施例中，提供一种用于更新决...
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