技术编号:6279920
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明一般涉及电子器件,并更特别地涉及形成半导体器件和结构的方法。背景技术 过去,半导体工业使用各种方法和结构在开关电源系统例如脉宽调制(PWM)系统内实现跳转(skip)循环检测和输出功率过载检测。在轻输出负载状况期间,经常使用跳转循环检测来减小电源系统内的功耗,该跳转循环检测也被称为突发模式检测。使用功率过载检测以确定是否系统提供的输出功率的量大于预期的电源系统的具体实现可允许的最大功耗。具有功率过载检测和跳转循环检测的开关电源控制器的一个示例是Pho...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。