技术编号:6294626
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供一种MCU芯片检测方法和电路,电压产生电路22在控制电路21的控制下,经过采样电路23向处于输出状态的被测MCU芯片的IO管脚提供用于提供电压的测试信号,以使被测MCU芯片根据测试信号调整被测MCU芯片的IO管脚输出的电信号,采样电路23对被测MCU芯片的IO管脚输出的电信号进行采样,从而控制电路21获得被测MCU芯片的IO管脚输出的电压和电流的对应关系,由于利用了控制电路21和电压产生电路22改变IO管脚负载,且控制电路21和电压产生电路22体...
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