技术编号：6305252
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。基于二次平台线阵CCD的倾角测量方法，涉及基于二次平台的倾角测量方法，属于超精密仪器设备测量系统的测量方法。为了解决采用光栅式编码器不适用于二次平台及六自由度气浮台系统的问题以及采用倾角传感器在二次平台动态工作时精度差的问题。本发明通过旋转半导体激光器旋转扫描周围的线阵CCD，在线阵CCD屏幕上留下高度不等的光点，得到线阵CCD屏幕上光点的高度数据。将相邻的线阵CCD上光点的高度数据信号发送给数字信号处理器。根据光点的高度信号求解光点构成平面的倾角α，根据...
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